Boundary Scan: Wenn der Test schon Teil des Designs ist!

BEYERS unterstützt Sie schon während der Designphase, um Boundary Scan sinnvoll ins Testkonzept für Ihre Baugruppe einzubinden.

Boundary Scan (auch JTAG: Joint Test Action Group) wird von Experten als „genialstes elektrisches Testverfahren“ geradezu gefeiert. Übersetzt bedeutet der Name etwa Grenzpfadabtastung oder Testen in der Peripherie (eines Schaltkreises). Beim Boundary Scan handelt es sich um ein standardisiertes Verfahren, um elektronische Schaltungen zu testen.

Schaltungen werden immer komplexer, kleiner und integrierter.

Weil Schaltungsaufbauten heute immer komplexer und vor allem immer kleiner werden, wird es immer schwieriger, physisch auf die relevanten Punkte einer Schaltung zuzugreifen, wie etwa bei In-Circuit-Tests notwendig. Beispielsweise bei Mehrlagenplatinen (Multilayer PCBs) oder im Falle von Integrierten Schaltungen (ICs), deren Gehäuse sämtliche Anschlüsse verdeckt, und so einen mechanischen Zugriff quasi unmöglich macht. Durch den Test können beispielsweise Widerstände auf ihre Anwesenheit geprüft sowie Quarze, Treiber-Bausteine, Logik-Gatter, Reset-Bausteine und sogar RAM- und Flash-Bausteine getestet werden.

Über Erfolg und Misserfolg entscheiden Design und Bauteilauswahl!

Ob sich eine Baugruppe mittels Boundary Scan mit einer zufrieden stellenden Abdeckung testen lässt, entscheidet sich in der Bauteilauswahl und in der Entwicklung. Das beste Boundary-Scan-Testsystem kann nichts ausrichten, wenn nicht gewisse Designregeln schon beim Schaltplanentwurf und bei der Bauteilauswahl eingehalten werden.

Wenden Sie sich deshalb so früh wie möglich und am besten vor dem Designprozess an uns. Wir beraten Sie gerne aus der Umsetzerperspektive im Sinne eines vernünftigen „Design for / to test“. Sprechen Sie uns gerne an.

In der Kombination liegt die Stärke!

Jedes Testverfahren hat seine Grenzen bezüglich Testabdeckung und Fehlererkennung bzw. Diagnose. Dazu kommt die zunehmende Komplexität aktueller und vor allem zukünftiger Baugruppen. Um eine optimale bzw. maximale Testtiefe zu erreichen, ist es daher sinnvoll, Prüfverfahren miteinander zu kombinieren. Boundary Scan kann als Option zur größeren Test- und Fehlerabdeckung in andere automatisierte Testsysteme wie In-Circuit-Tester, Flying Probe Tester, Funktionstestsysteme oder AOI-Systeme integriert werden.

Durch Boundary Scan in Kombination mit anderen Test- und Prüf-Verfahren lässt sich eine Prüfabdeckung realisieren, die Ihren Wünschen entspricht.

Gerne entwickeln wir gemeinsam mit Ihnen ein Prüfdesign, das Ihren Anforderungen gerecht wird.

Sprechen Sie uns gerne an.

Kontakt

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