Prüfung: Auf Nummer sicher!

BEYERS prüft Ihre Leiterkarten mit den passenden Verfahren. So erreichen Sie die gewünschte Prüfabdeckung und die Funktionsfähigkeit Ihrer Leiterplatten ist jederzeit sichergestellt.

Ob AOI, ICT, Boundary Scan, Funktionsprüfung, Flying Probe oder Röntgenprüfung. Jedes Testverfahren hat seine Grenzen bezüglich Testabdeckung und Fehlererkennung bzw. Diagnose. Die zunehmende Miniaturisierung und die steigende Komplexität von Baugruppen verstärken diesen Trend. Um eine optimale bzw. maximale Testtiefe zu erreichen, ist es daher sinnvoll, Prüfverfahren miteinander zu kombinieren. Zur Erreichung einer größeren Test- und Fehlerabdeckung können die verschiedenen Testsysteme sinnvoll kombiniert werden.

Kommen Sie möglichst früh in der Designphase auf uns zu, um ein optimales Design to Test für Ihre Baugruppen zu gewährleisten. Das Design der Leiterkarte und das Design der Prüfstrategie gehen dabei Hand in Hand. In der Designphase lassen sich die später auflaufenden Gesamtproduktkosten auf entscheidende Weise günstig beeinflussen. Dabei muss eine Vielzahl von Aspekten bedacht werden, um einen technologisch wie wirtschaftlich optimalen Testprozess zu gewährleisten.

Auf diese Weise lässt sich eine Prüfabdeckung realisieren, die Ihren Wünschen entspricht.

Gerne entwickeln wir gemeinsam mit Ihnen ein Prüfdesign, dass Ihren Anforderungen gerecht wird.

Sprechen Sie uns gerne an!

Kontakt

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